| 图片 |
标 题 |
更新时间 |
 |
四象限双极性电源高精度台式源表
S系列四象限双极性电源高精度台式源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大
|
2026-08-06 |
 |
高精度台式源iv曲线测试源表
普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验必备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富,半导体测试领域的经典产品!高精度台式源iv曲线测试源表
|
2026-08-05 |
 |
半导体电学参数测试设备ivcv曲线仪
SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持
|
2026-08-05 |
 |
微电子教学实验平台半导体器件测试系统
|
2026-08-04 |
 |
mos管电性能分析数字源表高精度IV曲线扫描
MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是 一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体器件，可 以 广泛 应 用 在 模 拟 电 路 和 数 字 电 路 当 中。MOSFE
|
2026-08-04 |
 |
大电流脉冲恒流源1000A脉冲电源
产品特点50μs-500μs的脉冲宽度连续可调15μs超快上升沿（典型时间）两路同步测量电压0.3mV-20V0.2%测试精度单台5A-1000A程控输出，可多台并联蕞高达3000A支持
|
2026-07-27 |
 |
功率器件静态参数测试系统
普赛斯功率器件静态测试解决方案普赛斯功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ
|
2026-07-27 |
 |
LCR数字电桥高精密电桥
选择武汉普赛斯的理由普赛斯加入PXISA联盟，依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台，PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客
|
2026-07-24 |
 |
MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式
选择武汉普赛斯的理由普赛斯加入PXISA联盟，依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台，PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客
|
2026-07-24 |
 |
IC电性能测试测试数字源表国产品牌源表
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、
|
2026-07-24 |
 |
半导体IV曲线测试仪微电流源表
S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V，最小测试电流
|
2026-07-24 |
 |
元器件iv曲线测试仪精密电流源表
半导体分立器件是指以半导体材料为基础的单一元件，包括各种半导体材料制成的二极管、三极管、场效应管、可控硅等，具有整流、放大、开关、检波，稳压、信号调制
|
2026-07-20 |
 |
半导体分立器件静态参数测试仪
半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，过程既复杂又
|
2026-07-20 |
 |
芯片电特性测试数字源表SMU源测
芯片电特性测试数字源表SMU源测特点 5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作 内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV 源及测量的准确度为0.1%，分辨率5
|
2026-07-15 |
 |
半导体特性曲线仪iv测试机
S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V，最小测试电流
|
2026-07-15 |
客服热线：
手机版
二维码
新闻中心