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半导体特性测试仪iv,cv曲线分析仪国产老品牌
SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持
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2026-07-06 |
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多通道光功率计光功率测量仪
产品概述PXIe-6242是一款4通道通用光功率计，波长范围800nm~1650nm，光功率测量范围+10dBm~-70dBm，支持模拟量输出，支持SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板
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2026-07-01 |
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微电流iv曲线测试仪S系列数字源表
S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V，最小测试电流
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2026-06-23 |
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功率半导体测试设备igbt模块检测机
IGBT测试难点： 1、由于IGBT是多端口器件，所以需要多个测量模块协同测试。 2、IGBT的漏电流越小越好，所以需要高精度的设备进行测试。 3、IGBT动态电流范围大，
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2026-06-23 |
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多通道PXIe源表硅光晶圆电性能测试
PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持10V，500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支
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2026-06-22 |
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IGBT模块测试设备igbt检测仪
IGBT功率半导体器件测试难点IGBT是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件,兼有高输入阻抗和低导通压降两方面的
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2026-06-22 |
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国产插卡式PXIe源表可拓展至136通道
PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持10V，500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支
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2026-06-16 |
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PXIe-6121多模光衰减器
产品概述PXIe-6121是一款单通道高精度多模光衰，衰减范围0dB~40dB，衰减分辨率0.01dB，衰减速度≤20ms/dB，支持光闸功能，支持SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前
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2026-06-16 |
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LCR表精密数字电桥PXIe-5302A型
PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI
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2026-06-16 |
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PXIe源表支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发
PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持10V，500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支
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2026-06-10 |
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多通道光功率测量计PXIe接口
产品概述PXIe-6241是一款PXIe接口的4通道快速光功率计，采样速率高达1MS/s，波长范围1250nm~1650nm，光功率测量范围+10dBm～-80dBm，支持模拟量输出，支持PXIeTr
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2026-06-10 |
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半导体分立器件测试系统静态参数测试设备
分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应，通常分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字万用表、 电压源、电
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2026-06-09 |
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硅光器件电性能分析数字源表PXIe多通道源表
PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持10V，500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支
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2026-06-09 |
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IGBT测试设备功率半导体器件静态参数测试机
IGBT测试难点： 1、由于IGBT是多端口器件，所以需要多个测量模块协同测试。 2、IGBT的漏电流越小越好，所以需要高精度的设备进行测试。 3、IGBT动态电流范围大，
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2026-06-08 |
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数字式交流电桥LCR测试仪
PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI
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2026-06-08 |
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