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功率器件静态参数测试系统
普赛斯功率器件静态测试解决方案普赛斯功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ
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2026-07-27 |
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LCR数字电桥高精密电桥
选择武汉普赛斯的理由普赛斯加入PXISA联盟，依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台，PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客
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2026-07-24 |
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MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式
选择武汉普赛斯的理由普赛斯加入PXISA联盟，依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台，PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客
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2026-07-24 |
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IC电性能测试测试数字源表国产品牌源表
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、
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2026-07-24 |
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半导体IV曲线测试仪微电流源表
S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V，最小测试电流
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2026-07-24 |
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元器件iv曲线测试仪精密电流源表
半导体分立器件是指以半导体材料为基础的单一元件，包括各种半导体材料制成的二极管、三极管、场效应管、可控硅等，具有整流、放大、开关、检波，稳压、信号调制
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2026-07-20 |
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半导体分立器件静态参数测试仪
半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，过程既复杂又
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2026-07-20 |
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芯片电特性测试数字源表SMU源测
芯片电特性测试数字源表SMU源测特点 5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作 内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV 源及测量的准确度为0.1%，分辨率5
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2026-07-15 |
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半导体特性曲线仪iv测试机
S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V，最小测试电流
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2026-07-15 |
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脉冲恒流源us级脉冲电流源
PLT系列大功率激光器测试恒流脉冲源适用于可见光、大功率BAR、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性
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2026-07-14 |
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igbt模块测试平台igbt静态测试系统
系统组成普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统，主要包括测试主机、测试夹具、工控机、上位机软件等构成。整套系统采用普赛斯自主开发的测试主机，内置多种规格电
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2026-07-14 |
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高校实验教学IV性能分析数字源表
传统实验教学存在的问题教学仪器老旧，故障率高，精度低，可重复性差；教学专用型仪表，功能单一，仪表复用率低，实验室占地面积大；实验仪表台数少，导致实验课
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2026-07-06 |
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半导体特性测试仪iv,cv曲线分析仪国产老品牌
SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持
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2026-07-06 |
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多通道光功率计光功率测量仪
产品概述PXIe-6242是一款4通道通用光功率计，波长范围800nm~1650nm，光功率测量范围+10dBm~-70dBm，支持模拟量输出，支持SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板
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2026-07-01 |
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微电流iv曲线测试仪S系列数字源表
S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V，最小测试电流
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2026-06-23 |
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