武汉普赛斯仪表有限公司

SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有着越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计，SPA6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持蕞高1200V电压、30A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测1kHz至2MHz范围内的多频AC电容测量。详询一八一四零六六三四七六  

        

产品特点

30μV-1200V，1pA-30A宽量程测试能力

测量精度高，蕞高可达0.1%

内置标准器件测试程序，直接调用测试简便 

自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线

供灵活的夹具定制方案，兼容性强

免费提供上位机软件及SCPI指令集

典型应用：

纳米、柔性等材料特性分析；

二极管；

MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；

第三代半导体材料/器件；

有机OFET器件；

LED、OLED、光电器件；

半导体电阻式等传感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；

电阻率系数和霍尔效应测量；

太阳能电池；

非易失性存储设备；

失效分析；

武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、脉冲恒流源、大电流脉冲电源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件测试设备、半导体参数分析仪等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多半导体特性测试仪iv,cv曲线分析仪国产老品牌信息，欢迎随时咨询普赛斯仪表！

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