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S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V，最小测试电流分辨率10pA，支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材料与纳米材料等特性测试和分析。
半导体IV曲线测试仪微电流源表特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作
内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.1%，分辨率5位半
四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至10pA
丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储，一键导出测试报告
支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网
技术参数
尺寸 425*255*106mm
重量 5KG
电源 AC 100~240V
工作环境 25±10℃
测试范围 300μV～300V/100pA～3A
测试精度 ±0.03%
最大输出功率 30W
输入电压 220V
输入电流 1A
含嵌入式软件 源表系统软件V1.0
通信口 RS-232、GPIB及以太网
产品应用
分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等
有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等
纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等
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武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士
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武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、脉冲恒流源、大电流脉冲电源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件测试设备、半导体参数分析仪等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多半导体IV曲线测试仪微电流源表信息，欢迎随时咨询普赛斯仪表！