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硅光器件电性能分析数字源表PXIe多通道源表
PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持10V，500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支
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2026-06-09 |
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IGBT测试设备功率半导体器件静态参数测试机
IGBT测试难点： 1、由于IGBT是多端口器件，所以需要多个测量模块协同测试。 2、IGBT的漏电流越小越好，所以需要高精度的设备进行测试。 3、IGBT动态电流范围大，
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2026-06-08 |
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数字式交流电桥LCR测试仪
PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI
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2026-06-08 |
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直流源表S系列通用数字源表
武汉普赛斯是国内较早生产源表的厂家，产品系列丰富：产品覆盖不同的电压、电流范围，产品已经过了市场的考验，市场应用率高； S系列数字源表最大输出电压300V，
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2026-06-02 |
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分立器件WAT电性能分析数字源表PXIe多通道源表
PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持10V，500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支
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2026-06-02 |
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PXle-6211高功率光功率计外置探头
产品概述PXIe-6211是一款单通道外置探头的高功率光功率计，波长范围800nm~1650nm，最大光功率可达+30dBm，支持模拟量输出，支持SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前
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2026-06-02 |
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快速光功率计普赛斯仪表PXIe-6241型
产品概述PXIe-6241是一款PXIe接口的4通道快速光功率计，采样速率高达1MS/s，波长范围1250nm~1650nm，光功率测量范围+10dBm～-80dBm，支持模拟量输出，支持PXIeTr
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2026-06-01 |
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PXIe-6111单模光衰减器
产品概述PXIe-6111是一款单通道高精度单模光衰，衰减范围0dB~60dB，衰减分辨率0.01dB，衰减速度≤20ms/dB，支持光闸功能，支持SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前
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2026-06-01 |
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4通道通用光功率计PXIe-6242
产品概述PXIe-6242是一款4通道通用光功率计，波长范围800nm~1650nm，光功率测量范围+10dBm~-70dBm，支持模拟量输出，支持SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板
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2026-05-21 |
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半导体电学特性测试系统-国产半导体参数分析仪
SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持
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2026-05-21 |
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igbt模块测试igbt静态参数测试机
igbt模块测试igbt静态参数测试机特点高电压：支持高达3.5KV高电压测试； 大电流：支持高达2KA大电流测试； 高精度：支持uΩ级导通电阻、纳安级漏电流测试； 模块
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2026-05-20 |
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半导体分立器件测试机iv曲线扫描仪
半导体分立器件是指以半导体材料为基础的单一元件，包括各种半导体材料制成的二极管、三极管、场效应管、可控硅等，具有整流、放大、开关、检波，稳压、信号调制
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2026-05-20 |
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二三极管电性能分析数字源表iv曲线扫描仪
二极管二极管是一种使用半导体材料制作而成的单向导电性元器件,产品结构一般为单个PN结结构,只允许电流从单一方向流过。发展至今,已陆续发展出整流二极管、肖特
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2026-05-20 |
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功率半导体静态参数测试机
功率半导体静态参数测试机认准武汉生产厂家普赛斯仪表，普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲
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2026-05-20 |
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半导体参数测试仪国产半导体电性能测试设备
产品特点30μV-1200V，1pA-30A宽量程测试能力 测量精度高，蕞高可达0.1%内置标准器件测试程序，直接调用测试简便自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数在CV和IV
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2026-05-20 |
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