点击图片查看原图
产品概述
PXIe-6121是一款单通道高精度多模光衰，衰减范围0dB~40dB，衰减分辨率0.01dB，衰减速度≤20ms/dB，支持光闸功能，支持SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。详询一八一四零六六三四七六
产品特点
?衰减量程0～40dB，衰减分辨率0.01dB
?插损小于1.5dB
?衰减精度±0.1dB_衰减重复性0.05dB
?衰减响应时间：≤20ms/dB
?支持输出光功率监控功能
?支持光闸
?支持背板触发总线
应用范围
硅光芯片测试
光模块测试
系统和光器件光损耗模拟
普赛斯加入PXISA联盟，依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台，PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客户欢迎，经过长期的技术沉淀及软硬件迭代升级，确保生产设计符合PXIe标准的模块化仪器。普赛斯为客户提供全套PXIe测试系统，包含系统卡/远程卡、机箱和各种功能模块板卡，并将持续研发投入，推出更多符合市场需求的功能模块板卡，在此基础上提供测试系统解决方案满足客户需求。
联系我们：
武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士
Web:http://www.whpssins.com
Add:武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号移动终端1号楼
Tel：027-87993690
Mobile:18140663476
QQ：1993323884
Email:taof@whprecise.com